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PHI 5000 Versaprobe II X射線光(guang)電(dian)(dian)子(zi)能譜儀是材料(liao)科學和發(fa)展的(de)領(ling)域中Z廣泛使用(yong)的(de)表(biao)面(mian)分析(xi)技術。其原(yuan)(yuan)理是利(li)用(yong)X射線束(shu)（一般會使鋁陽極或鎂陽極）作為入射源(yuan)，照射在樣品(pin)表(biao)面(mian)導(dao)致讓光(guang)電(dian)(dian)子(zi)從(cong)原(yuan)(yuan)子(zi)的(de)核心層被激發(fa)出(chu)。根據測得的(de)光(guang)電(dian)(dian)子(zi)所發(fa)出(chu)的(de)電(dian)(dian)子(zi)動能，再(zai)依照能量守恒定律就可以知(zhi)道電(dian)(dian)子(zi)的(de)結合能，從(cong)而也就可知(zhi)道樣品(pin)表(biao)面(mian)是何物質。

日本(ben)電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分(fen)析(xi)儀可(ke)以安裝通用性強、使用方便的(de)(de)能譜儀X射線探測器，組合(he)使用WDS和EDS，能提供無(wu)縫(feng)、舒適的(de)(de)分(fen)析(xi)環境。日本(ben)電子新(xin)開發(fa)出的(de)(de)EPMA （電子探針）秉(bing)承近(jin)半個世紀的(de)(de)EPMA的(de)(de)發(fa)展歷史，JXA-8230具備用戶(hu)友好的(de)(de)操作、通過(guo)新(xin)式簡單易用的(de)(de)PC 用戶(hu)界面提供完整范圍(wei)的(de)(de)高(gao)精度、快速分(fen)析(xi)，這是JEOL長(chang)年來對高(gao)可(ke)靠性硬件不斷改(gai)良(liang)的(de)(de)結果(guo)。

布(bu)魯克(ke) Dimension FastScan 掃描探針(zhen)顯微(wei)鏡在不損(sun)失Dimension® Icon®超高的(de)分辨率和(he)的(de)儀器(qi)性能前提下，Z大限(xian)度的(de)提高了(le)成像速度。這項突破性的(de)技術(shu)(shu)創新，從根(gen)本(ben)上解決了(le)AFM成像速度慢的(de)難題(ti)，大大縮(suo)短了(le)各(ge)技術(shu)(shu)水(shui)平(ping)的(de)AFM用戶獲(huo)得數據的(de)時間。

FEI Titan ETEM G2 透射(she)電子顯微鏡是我們的環境 TEM 平臺，設(she)計用(yong)來(lai)觀測功能性納(na)米材(cai)料及其(qi)隨著時間的推移對氣體和溫度(du)刺激的響應(ying)。憑借*的差動泵(beng)目(mu)鏡，標(biao)本區可變身(shen)為(wei)實驗室，展開對催化劑(ji)微粒(li)、納(na)米器件和其(qi)他材(cai)料的研究，進(jin)而在(zai)原子級(ji)別(bie)洞(dong)察表面和界面形(xing)態(tai)及相(xiang)互(hu)作用(yong)。在(zai)需要時，Titan ETEM 還可作為(wei)標(biao)準(zhun) S/TEM 開展原子級(ji)別(bie)成像。

FEI Nova Nano SEM 場(chang)發(fa)射掃描電子顯微鏡該產品(pin)是世界(jie)上(shang)*款可以(yi)對有機材(cai)料(liao)、基(ji)板、多(duo)孔材(cai)料(liao)、塑料(liao)以(yi)及高(gao)聚物材(cai)料(liao)等(deng)有電荷積累的樣品(pin)和/或污染性樣品(pin)進行超高(gao)分辨表征的低真空場(chang)發(fa)射掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）。作(zuo)為(wei)FEI公司市場(chang)的眾(zhong)多(duo)設備中的一員(yuan)，Nova NanoSEM為(wei)用戶(hu)在納米研(yan)究、開(kai)發(fa)與生產的相關(guan)工作(zuo)提供了更多(duo)的可能。

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