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PHI nanoTOF II 飛行時(shi)間二次(ci)離子(zi)(zi)質(zhi)譜儀(yi)是(shi)一種(zhong)表(biao)面敏感的技(ji)術，提供(gong)表(biao)面分子(zi)(zi)，元(yuan)素(su)(su)及其同位素(su)(su)前幾個原子(zi)(zi)層的組(zu)成(cheng)圖像。所有(you)元(yuan)素(su)(su)和同位素(su)(su)，包括氫氣都可以用飛行時(shi)間二次(ci)離子(zi)(zi)質(zhi)譜分析。在(zai)理論(lun)上，該儀(yi)器可以在(zai)一個無限大(da)的質(zhi)量范圍(wei)內提供(gong)很高的質(zhi)量分辨率（在(zai)實踐(jian)中(zhong)通常是(shi)大(da)約 10000amu）。