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布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡

布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡

簡要描述:

布魯克 Dimension FastScan 掃描探(tan)針顯微鏡在不損失Dimension® Icon®超(chao)高的(de)分辨率和的(de)儀器(qi)性能(neng)前(qian)提下,Z大限度(du)的(de)提高了成(cheng)像速度(du)。這項突破(po)性的(de)技術創新,從根本上(shang)解決了AFM成(cheng)像速度(du)慢的(de)難(nan)題,大大縮短(duan)了各技術水平的(de)AFM用戶(hu)獲得(de)數(shu)據的(de)時間(jian)。

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布魯克原子力顯微鏡詳細介紹:
布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和的儀器性能前提下,zui大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新,從根本上解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。
布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡為提高AFM使用效率和檢測性能,Bruker開發了這套快速掃描系統,不降低分辨率,不增加操作復雜性,不影響儀器使用成本的前提下,幫助用戶實現了利用Dimension快速掃描系統,即快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時,無論設置實驗參數為掃描速度 > 125Hz,還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像,都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
■采用zui低熱漂移的針尖掃描AFM技術,提高了系統的固有振動頻率。

■應用新的NanoScope控制器,為機器提供了更高的帶寬。
■開發了小懸臂的生產工藝,在空氣中共振頻率為1.3MHz,在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。
■采用了低噪音的機械和電子的主要部件,結合高共振頻率X-Y-Z掃描管,在技術上獲得了重大突破。
■更高的帶寬提供了精確的力控制和高掃描速度,結合高精度的閉環控制,在效率上遠遠高于其它任何商業化的AFM。
■以20Hz掃描速度進行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高,即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會降低。
■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片,即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向,探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s,同時在閉環工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s, X-Y方向的跟蹤誤差<1%,真正使Fastscan成為了世界上*臺快速掃描AFM。
■ 自動的激光和檢測器的調節使得實驗的組建更為快速有效。
■ 系統使用自帶的樣品導航軟件MIRO,利用光學成像系統能夠在幾分鐘之內分辨并抓取納米級的樣品特征。
的光學系統可以使用任何Bruker的探針,在不降低系統穩定性的前提下,得到的激光信號調節。
■ 針尖掃描系統的設計與210mm大尺寸樣品臺結合,消除了樣品尺寸的限制,同時維持了zui低的噪音和熱漂移水平。

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