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FEI Titan ETEM G2 透射電(dian)子(zi)顯微鏡是我們的環境 TEM 平臺，設計(ji)用來觀測(ce)功能性納米材料及(ji)其隨著時(shi)間的推移對(dui)(dui)氣體(ti)和(he)(he)溫度刺激的響應。憑借*的差動泵目鏡，標本(ben)區可變身為實驗室，展開對(dui)(dui)催化劑微粒(li)、納米器件和(he)(he)其他材料的研究，進而在原(yuan)子(zi)級別洞察(cha)表面和(he)(he)界面形(xing)態及(ji)相互(hu)作用。在需要時(shi)，Titan ETEM 還可作為標準 S/TEM 開展原(yuan)子(zi)級別成像。

FEI Nova Nano SEM 場發(fa)射掃描(miao)電子顯(xian)微鏡該產品(pin)(pin)是世界上*款可以對有機材料、基(ji)板、多(duo)孔材料、塑料以及(ji)高聚物材料等有電荷積累的(de)樣品(pin)(pin)和/或污染性樣品(pin)(pin)進(jin)行超高分辨表征(zheng)的(de)低真(zhen)空(kong)場發(fa)射掃描(miao)電子顯(xian)微鏡（FEG-SEM）。作為FEI公司市場的(de)眾多(duo)設備中的(de)一員，Nova NanoSEM為用戶(hu)在納(na)米研究、開發(fa)與生產的(de)相(xiang)關工作提供了更多(duo)的(de)可能。

FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿(man)(man)足(zu)傳統(tong)高(gao)分(fen)辨率樣品研究所需的(de)一切，簡單(dan)易用(yong)的(de) InspectTM 專為滿(man)(man)足(zu)研究各(ge)類材料以及(ji)表征(zheng)材料結構和成(cheng)分(fen)的(de)主(zhu)流需求而(er)設計，配備高(gao)穩定(ding)分(fen)辨率平臺，可(ke)滿(man)(man)足(zu)大多數研究的(de)需要。

蔡司(si) Gemini SEM場(chang)發(fa)射掃描電子(zi)顯微鏡(jing)二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術，GeminiSEM具(ju)有完整高效的檢測(ce)系統(tong)、*的分辨率(lv)以及簡便的操(cao)作方式。Gemini物鏡(jing)設計將靜(jing)電場(chang)與磁場(chang)結合(he)，可(ke)在Z大限度地(di)提升光學(xue)性能(neng)的同時將場(chang)發(fa)射對(dui)樣品(pin)的損傷降至Z低。

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