蔡司 Gemini SEM場發射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統、*的分辨率以及簡便的操作方式。Gemini物鏡設計將靜電場與磁場結合，可在zui大限度地提升光學性能的同時將場發射對樣品的損傷降至zui低。此設計確保了ji佳的成像質量，即使是較具挑戰性的磁性材料也同樣可以達到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號探測成為可能。探測器安裝在光軸上，可以減少調整時間，并可zui大限度地降低成像時間。Gemini電子束加速器技術確保了小的探針尺寸和高的信噪比，以達到超低的加速電壓。
蔡司 Gemini SEM場發射掃描電子顯微鏡【技術參數】
分辨率： 0.8nm @15 kV   1.4 nm @1kV
放大倍數：12-2,000,000×
加速電壓：調整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實現）
探針電流： 3pA-20nA（100nA可選）
低真空范圍： 10-500Pa （GeminiSEM300 VP可用）
樣品室： 330 mm（φ），270 mm（h）
樣品臺：5軸優中心全自動    
X=130mm
Y=130mm
Z=50 mm
T=-3o-70o
R=360o 連續
系統控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統，可選鼠標、鍵盤、控制面板控制
【產品應用】       
掃描電鏡(SEM)廣泛地(di)應用于金屬材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)(鋼鐵(tie)、冶金、有色、機(ji)械(xie)加(jia)工(gong))和(he)(he)非金屬材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)(化(hua)學、化(hua)工(gong)、石油、地(di)質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等(deng) 檢(jian)驗和(he)(he)研究。在(zai)材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)科學研究、金屬材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)、陶瓷材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)、半(ban)導體材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)、化(hua)學材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)等(deng)領域(yu)進(jin)行材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)的微觀形貌(mao)(mao)、組織、成分(fen)分(fen)析(xi)，各種(zhong)材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)的形貌(mao)(mao)組織觀察，材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)斷口分(fen) 析(xi)和(he)(he)失效分(fen)析(xi)，材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)實時微區成分(fen)分(fen)析(xi)，元素(su)定(ding)量(liang)、定(ding)性成分(fen)分(fen)析(xi)，快速的多元素(su)面掃描和(he)(he)線掃描分(fen)布測(ce)量(liang)，晶(jing)體、晶(jing)粒(li)的相鑒定(ding)，晶(jing)粒(li)尺寸、形狀分(fen)析(xi)，晶(jing)體、晶(jing) 粒(li)取(qu)向測(ce)量(liang)。