蔡司 SIGMA高分辨率場發射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學系統設計，分辨率超過0.8nm，為您提供zui高分辨率和*分析性能科研平臺。Sigma500/VP專注于*的EDS幾何學設計使您可以獲取*的分析性能。借助Sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數據。多種探測器的選擇使Sigma500/VP可以精準的匹配您的應用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結構、薄膜、涂層和多層的圖像信息。
蔡司 SIGMA高分辨率場發射掃描電子顯微鏡【技術參數】
分辨率： 0.8nm @15   kV   1.6 nm @1kV
放大倍數：10-1,000,000×
加速電壓：調整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實現）
探針電流： 4pA-20nA （40nA&100nA可選）
低真空范圍：2-133Pa（Sigma 500VP可用）
樣品室： 358 mm（φ），270.5 mm（h）
樣品臺：5軸優中心全自動   
X=125 mm（可選130mm）
Y=125 mm（可選130mm）
Z=50 mm
T=-10o-90o
R=360o 連續
系統控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統，可選鼠標、鍵盤、控制面板控制
【產品應用】   
掃(sao)描(miao)電鏡(jing)廣泛用(yong)于材(cai)(cai)(cai)料(liao)科學（金屬材(cai)(cai)(cai)料(liao)、非金屬材(cai)(cai)(cai)料(liao)、納米材(cai)(cai)(cai)料(liao)）、冶金、生(sheng)物學、醫學、半(ban)導(dao)體材(cai)(cai)(cai)料(liao)與(yu)器件、地質勘探、病蟲害的(de)(de)(de)防治(zhi)、災害（火災、失效分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)）鑒(jian)(jian)定(ding)(ding)、刑事偵察、寶石鑒(jian)(jian)定(ding)(ding)、工(gong)業(ye)生(sheng)產(chan)(chan)中(zhong)的(de)(de)(de)產(chan)(chan)品質量(liang)(liang)鑒(jian)(jian)定(ding)(ding)及生(sheng)產(chan)(chan)工(gong)藝控(kong)制等(deng)(deng)。在材(cai)(cai)(cai)料(liao)科學、金屬材(cai)(cai)(cai)料(liao)、陶瓷材(cai)(cai)(cai)料(liao)半(ban)導(dao)體材(cai)(cai)(cai)料(liao)、化學材(cai)(cai)(cai)料(liao)等(deng)(deng)領域，進行材(cai)(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)(de)微(wei)觀(guan)形(xing)貌(mao)、組(zu)織、成(cheng)(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)。各種材(cai)(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)(de)形(xing)貌(mao)組(zu)織觀(guan)察，材(cai)(cai)(cai)料(liao)斷(duan)口分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)和(he)(he)失效分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)，材(cai)(cai)(cai)料(liao)實時(shi)微(wei)區成(cheng)(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)，元(yuan)(yuan)素(su)定(ding)(ding)量(liang)(liang)、定(ding)(ding)性成(cheng)(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)，快(kuai)速的(de)(de)(de)多(duo)元(yuan)(yuan)素(su)面掃(sao)描(miao)和(he)(he)線(xian)掃(sao)描(miao)分(fen)(fen)布測量(liang)(liang)，晶(jing)體/晶(jing)粒的(de)(de)(de)相鑒(jian)(jian)定(ding)(ding)，晶(jing)粒尺(chi)寸、形(xing)狀分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)，晶(jing)體、晶(jing)粒取向測量(liang)(liang)。