日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。 日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是下一代能*多種需求的強力分析工具之一。 - EPMA快速啟動，點擊任何一點，就能開始預設的EDS定性、定量分析或WDS分析。 - 用戶菜單（User recipes），能保存或調用經常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學參數、EDS和WDS參數在內。 - EDS 的性能，數字化脈沖處理器，全譜面分布(WD/ED, 樣品臺和電子束掃描)，無風扇SDD (選配)
日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀PC平臺操作
快速啟動
用戶菜單
“Point ﹠Click”分析功能
實時顯示重疊的X-射線圖像(WDS)
EDS 譜圖成像
新開發的、用于極輕元素分析的分光晶體 
用FE電子槍進行高空間分辨率成像
常規的EPMA的熱發射電子槍使用鎢或六硼化鑭燈絲，而場發射電子槍提供的探針直徑只有傳統的1/2～1/10。
FE電子槍即使在低加速電壓下使用大探針電流，也能夠提供小束斑，因此可以進行高空間分辨率的WDS分析。
“Click Point Analysis”功能和用戶菜單（User,s recipe）
Click Point Analysis功能允許用戶只需簡單地在二次電子像或背散射電子像上點擊任意一點，就能獲得WDS譜圖和半定量分析結果。用戶菜單（User,s recipe）能為訪問預設的分析條件提供方便，這些功能旨在通過這些zui簡便的操作，zui大限度地提高FE-EPMA的效率。
先進的操作
用戶可以根據他們的研究目標設計詳細的分析程序，如復雜的納米區域的元素定量分析。系統中集成了完整的應用程序和易于使用的軟件包，提供了廣泛的數據分析方法和工具，例如，電子束追蹤功能可使極微小區域上長時間的面分析、點分析更容易執行，而無需擔心電子束漂移。
WD/ED組合系統
擁有使用方便的WD/ ED組合系統，納入了JEO*進的WDS和EDS探測器，組合使用擅長微量元素分析的WDS和廣受贊譽的EDS系統，JXA-8530F成為高效采集定量分析數據、高倍率電子束掃描面分布及大面積樣品臺掃描面分布的強有力工具之一。